Laboratory of X-ray Diffraction
| 實驗室名稱 : | X光繞射實驗室 | ||||||||
| 參與教授 : | 蔡定侃 | ||||||||
| 協同參與教授 : | 方昭訓 | ||||||||
| 設備 : |
|
||||||||
| 研究方向 : | Ｘ光於1895年由德國物理學家Rontgen所發現，Ｘ光的發現對人類科技、工業及醫藥的發展有相當重要的貢獻。由於Ｘ光的發現與研究，奠立了今日相關科技的發展基礎，尤其對材料科技的研究發展更是影響深遠。Ｘ光繞射分析是解析材料晶體結構最有效的工具之一，應用於相鑑定、相之組成分析、殘留應力分析、texture測定分析和晶粒粒度量測，近年來利用低角度Ｘ光入射法(grazing incidence)，明顯增強薄膜的繞射訊號，逐漸成為薄膜分析的一項利器。 本實驗室提供教學訓練，讓學生熟悉利用Ｘ光繞射分析進行相鑑定及組成含量分析。提供教師研究及相關實驗分析。 |
||||||||
| 參考連結 : | http://nfusparc.nfu.edu.tw/ezfiles/34/1034/img/349/786792506.doc |